CVE-2026-31772
Qu'est-ce que CVE-2026-31772 ?
Dans le noyau Linux, la vulnérabilité suivante a été résolue : Bluetooth : hci_sync : correction du débordement de tampon de pile dans hci_le_big_create_sync hci_le_big_create_sync() utilise DEFINE_FLEX pour allouer un struct hci_cp_le_big_create_sync sur la pile avec de la place pour 0x11 (17) Entrées BRI. Cependant, conn->num_bis peut contenir jusqu'à HCI_MAX_ISO_BIS (31) entrées - validées par rapport à ISO_MAX_NUM_BIS (0x1f) dans l'appelant hci_conn_big_create_sync(). Lorsque conn->num_bis est compris entre 18 et 31, le memcpy qui copie conn->bis dans cp->bis écrit jusqu'à 14 octets au-delà du tampon de pile, corrompant la mémoire de la pile adjacente
FAQ
CVE-2026-31772 a un score CVSS de N/D/10, évalué comme Inconnu. Consultez la liste des produits affectés et appliquez les correctifs du fournisseur.
Le CVSS (Common Vulnerability Scoring System) évalue la gravité des vulnérabilités de 0,0 à 10,0. CVE-2026-31772 obtient N/D/10 (Inconnu). Les scores de 9,0–10,0 sont Critiques, 7,0–8,9 Élevés, 4,0–6,9 Moyens et inférieurs à 4,0 Faibles.
La liste des appareils confirmés comme étant affectés par CVE-2026-31772 est indiquée dans la section "Appareils affectés" ci-dessus. Comparez votre version de firmware avec l'avis de sécurité du fournisseur et appliquez le dernier correctif.
Appliquez la dernière mise à jour du firmware ou du logiciel du fournisseur. Consultez la section Références ci-dessus pour les avis officiels et les notes de correctif. Si aucun correctif n'est disponible, envisagez de désactiver la fonctionnalité affectée ou d'isoler l'appareil des réseaux non fiables.